在生成時(shí)進(jìn)行測試的引導(dǎo)式程序集。將多個(gè) Cirris CR 測試儀連接在一起，用于具有數(shù)千個(gè)點(diǎn)的復(fù)雜組件。該系統(tǒng)支持引導(dǎo)式裝配，包括屏幕上的連接器圖像，包括正確腔體位置、裝配板上的引導(dǎo) LED 以及即時(shí)圖形和聲音反饋，以便在錯(cuò)誤發(fā)生時(shí)捕獲錯(cuò)誤。

• 多達(dá) 32，000 個(gè)測試點(diǎn)（256 點(diǎn)/盒）
• 基本單元重量小于 3 磅
• “菊花鏈”架構(gòu)減少了接口布線的長度和復(fù)雜性
• 用戶可選的通過/失敗電阻閾值范圍為 0.1 Ω 至 500 kΩ。
• 多種測試模式

• 測試點(diǎn)
• 256分;可擴(kuò)展到 32，000 點(diǎn)，增量為 256 點(diǎn)。（距基本設(shè)備最遠(yuǎn)距離：200 英尺。
• 低壓測試
• 2 線
• 電壓：最大 10 V
• 電流：1.6 μA 至 6 mA
• 線電阻：0.1 Ω 至 100 Ω ±3% ±0.1 Ω
• 4 線
• 電壓：最大 10 V
• 電流：1.6 μA 至 6 mA
• 線電阻：0.005 Ω 至 80 Ω ±2% ±0.005 Ω